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Tabl e 6. 4
2-coupling linked faults
2-coupling linked faults L
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2-coupling linked faults L
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Memories are among of the most complex digital circuits. They involve many
analog parts and the resulting circuitry is denser than any other type of digital device.
No single pattern is therefore sufficient to test a memory for all types of real defects.
Actually a suite of patterns is required to detect the real defects that may happen in
the manufacturing environment (
Dean et al.
1993
).
