Chemistry Reference
In-Depth Information
12. C. Bae, H. Shin and K. Nielsch, MRS Bull., 2011, 36, 877.
13. J. W. Elam, N. P. Dasgupta and F. B. Prinz, MRS Bull., 2011, 36, 899.
14. C. Marichy, M. Bechelany and N. Pinna, Adv. Mater., 2012, 24, 1017.
15. V. Miikkulainen, M. Leskel
¨
, M. Ritala and R. L. Puurunen, J. Appl.
Phys., 2013, 113, 021301.
16. G. S. Higashi and C. G. Fleming, Appl. Phys. Lett., 1989, 55, 1963.
17. R. L. Puurunen, J. Appl. Phys., 2005, 97, 121301.
18. Q. Xie, Y.-L. Jiang, C. Detavernier, D. Deduytsche, R. L. Van
Meirhaeghe, G.-P. Ru, B.-Z. Li and X.-P. Qu, J. Appl. Phys., 2007,
102, 083521.
19. C. D¨cs¨, N. Q. Khanh, Z. Horv´th, I. B´rsony, M. Utriainen, S. Lehto,
M. Nieminen and L. Niinist¨, J. Electrochem. Soc., 1996, 143, 683.
20. M. Ritala, M. Leskel¨, J.-P. Dekker, C. Mutsaers, P. J. Soininen and
J. Skarp, Chem. Vap. Deposition, 1999, 5,7.
21. A. W. Ott, J. W. Klaus, J. M. Johnson, S. M. George, K. C. McCarley and
J. D. Way, Chem. Mater., 1997, 9, 707.
22. J. W. Elam, D. Routkevitch, P. P. Mardilovich and S. M. George, Chem.
Mater., 2003, 15, 3507.
23. R. G. Gordon, D. Hausmann, E. Kim and J. Shepard, Chem. Vap. De-
position, 2003, 9, 73.
24. J. Dendooven, D. Deduytsche, J. Musschoot, R. L. Vanmeirhaeghe and
C. Detavernier, J. Electrochem. Soc., 2009, 156, P63.
25. J. Dendooven, B. Goris, K. Devloo-Casier, E. Levrau, E. Biermans,
M. R. Baklanov, K. F. Ludwig, P. Van Der Voort, S. Bals and
C. Detavernier, Chem. Mater., 2012, 24, 1992.
26. J. H. Pan and W. I. Lee, New J. Chem., 2005, 29, 841.
27. M. R. Baklanov, K. P. Mogilnikov, V. G. Polovinkin and F. N. Dultsev,
J. Vac. Sci. Technol., B, 2000, 18, 1385.
28. J. Dendooven, K. Devloo-Casier, E. Levrau, R. Van Hove, S. P. Sree,
M. R. Baklanov, J. A. Martens and C. Detavernier, Langmuir, 2012,
28, 3852.
29. K. Kukli, M. Ritala, T. Sajavaara, J. Keinonen and M. Leskel¨, Chem.
Vap. Deposition, 2002, 8, 199.
30. P. A. Midgley and M. Weyland, Ultramicroscopy, 2003, 96, 413.
31. P. A. Midgley and R. E. Dunin-Borkowski, Nat. Mater., 2009, 8, 271.
32. K. J. Batenburg, S. Bals, J. Sijbers, C. K¨bel, P. A. Midgley,
J. C. Hernandez, U. Kaiser, E. R. Encina, E. A. Coronado and G. Van
Tendeloo, Ultramicroscopy, 2009, 109, 730.
33. E. Biermans, L. Molina, K. J. Batenburg, S. Bals and G. Van Tendeloo,
Nano Lett., 2010, 10, 5014.
34. X. Ke, S. Bals, D. Cott, T. Hantschel, H. Bender and G. Van Tendeloo,
Microsc. Microanal., 2010, 16, 210.
35. B. Goris, W. Van den Broek, K. J. Batenbrug, H. H. Mezerji and S. Bals,
Ultramicroscopy, 2012, 113, 120.
36. J. Dendooven, S. P. Sree, K. De Keyser, D. Deduytsche, J. A. Martens,
K. F. Ludwig and C. Detavernier, J. Phys. Chem. C, 2011, 115, 6605.
d
n
9
r
4
n
g
|
7
.
Search WWH ::
Custom Search