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Abb. 9.36 Reflexion an anisotroper rauer Oberfläche. {n} Oberflächen-/Facettennormale
. t
D
cos .'/ D . n / f h g / If v 0 g Lichteinfallsrichtung, früher flg . v 0
D cos .™ 0 / D . n / f v 0 g / ; f v g Be-
f h g Halfwayvektor zwischen f v 0 g und f v g . u
obachterrichtung . v
D
cos .™/ D . n / f v g / ;
D
cos .”/ D . t / f h 0 g / ;
f h 0 g
cos .“/ D . v / f h g / ; {t} Tangentenvektor in der Oberfläche . w D
Projektion von {h} auf die Oberfläche
doppelschichtige , aus Oberflächen mit heterogenen optischen Eigenschaften, die
aus zwei Schichten bestehen, deren obere transparent ist und mit einer undurch-
sichtigen unteren. Jede Schicht für sich ist vom Typ ‚einschichtig'.
Das Material jeder Schicht wird mit folgenden Parametern charakterisiert:
C œ Reflexionskoeffizient für Licht der Wellenlänge œ ,mit 0 C œ 1 .
r Rauheitsfaktor, mit r D 0 für perfekt spiegelnd, r D 1 perfekt diffus. r ist
abhängig vom quadratischen Mittel der Neigungen der Mikrofacetten, siehe
Cook-Torrance-Modell.
p Isotropiefaktor, mit p D 0 für perfekt anisotrop, p D 1 perfekt isotrop. Die
Orientierung der „Kratzer“ auf der Oberfläche erfolgt mit demWinkel .Bei
” D 0 sind die Richtungen von {t} und f h 0 g identisch. Das Licht scheint
dann parallel zu den Kratzern und wird nicht abgeschattet. In dieser Lage mit
” D 0 handelt es sich um eine isotrope, senkrecht hierzu bei ” D 90 ı um
eine anisotrope Oberfläche (d. h. Teil einer Oberfläche).
Diese Parameter gelten für beide Schichten. Für doppelschichtige Oberflächen sind
daher zwei vollständige Datentripel erforderlich, eines für jede Schicht. Die Wahl
dieser Parameter soll hauptsächlich die praktische Anwendung unterstützen, wie
man schon an deren Wertebereiche erkennt: Sie können intuitiv erfasst und definiert
werden ohne große physikalischen Vorkenntnisse, und sie können experimentell
sowohl überprüft als auch ermittelt werden.
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