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2.92b
Schemazeichnung
eines Transmissionselek-
tronenmikroskops.
nug sein, im Normalfall einige Dutzend bis ma-
ximal einige Hundert Atomlagen, sodass die
Elektronen die Probe durchdringen können
und nicht absorbiert oder zurück gestreut wer-
den - Transmission bedeutet ja „Hindurchge-
hen“. Diese extrem dünnen Proben werden
hergestellt, indem Ionenstrahlen über Stunden
Schicht für Schicht eines Dünnschliffes abtra-
gen, bis er dünn genug ist („
Ionendünnung
“).
Hat man eine geeignete Probe, so wird sie in ei-
ner evakuierten Röhre in den Elektronenstrahl
gebracht (Abb. 2.92). Der die Probe durchdrin-
gende Elektronenstrahl wird nun am Kristall-
gitter - und das ist der Clou dieser Technik -
genau wie Licht an einem Gitter gebrochen. Für
den optischen Fall ist dies in Abb. 2.93 darge-
stellt. Wenn der Elektronenstrahl ein Kristall-
gitter durchschießt, entsteht ein Punktmuster
(Abb.2.94),dasdiesesGitterabbildet.DieAb-
bildung ist reziprok, wie es auch bei der
optischen Beugung der Fall ist. Das Punktmus-
ter wird
Elektronenbeugungsmuster
oder
Elektronendiffraktogramm
genannt. Es ent-
spricht einem Röntgendiffraktogramm der
RDA, wird aber statt mit Röntgenstrahlen eben
mit Elektronen erzeugt. Aus diesem Elek-
tronendiffraktogramm können ebenso Kristall-
gitter konstruiert werden wie aus einem Rönt-
gendiffraktogramm, allerdings mit deutlich
geringerer Präzision. Die Punkte in ihm sind
nicht - obwohl dies intuitiv so aussehen mag -
Atome.
