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Abb. 7.26
Errechneter
reflektierter Strahlungsan-
teil als Fläche unterhalb der
normierten Faltung in den
Grenzen von
α
1
nach
α
2
Abb. 7.27
Koordi-
natendefinition zum
Akzeptanzbereich des
Sekundarreflektors eines
Fresnelkollektors
Die gesamte Beleuchtungsstärke
E
(
x
rc
) am Ort
P
des Receivers ergibt sich aus der Summa-
tion der Anteile aller Spiegelelemente
n
pr
mit:
·
n
pr
(7.15)
E
(
x
rc
)
=
I
b
E
(
α
1
,
α
2
,
β
)
.
1
Für Fresnelsysteme muss das Verfahren erweitert werden, da bisher nur der abgebildete
Anteil an der Direktstrahlung eines Spiegelelementes auf einen Ort am Receiver bestimmt
wurde. Für einen Fresnelkollektor ist aber die Strahlung am Absorber von Bedeutung, die
nicht mit obigen Ergebnis identisch ist. Die Koordinaten eines auf die Apertur einfallen-
den Lichtstrahls sind durch den Winkel
θ
rc
und die Koordinate
x
rc
eindeutig bestimmt
(vergl. Abb.
7.27
). Ob der Strahl das Absorberrohr trifft, lässt sich mit Hilfe des Forward
Raytracingverfahrens berechnen. Das Ergebnis kann in einer Matrix, die den Akzeptanz-
bereich
Γ
rc
(
x
rc
,
θ
rc
) des Sekundärreflektors wiedergibt, zusammengefasst werden. Die den
Absorber erreichende Gesamtstrahlung
E
abs
ergibt sich aus der Summation über alle Re-
ceiverorte (
x
rc
) und jedes Primärspiegelelement (
x
pr
):
E
abs
=
ρ
pr
·
cos
(θ
rc
) E (α
1
,
α
2
,
β)
rc
(x
rc
,
θ
rc
) τ
rc
(θ
rc
)
x
rc
,
(7.16)
n
x
rc
n
pr
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